返回首頁
在線訂單
聯(lián)系我們
產(chǎn)品分類
技術(shù)文章
當前位置：首頁 > 技術(shù)文章
菲希爾熒光射線測厚儀特點信息
點擊次數(shù)：195 更新時間：2025-09-12
靈活的測量距離
測量距離范圍為 0 - 80mm，并配備 DCM（Distance Compensation Method）測量距離補償技術(shù)。傳統(tǒng) X 射線熒光設(shè)備要求樣品表面與探測器保持固定距離，否則會影響檢測精度，而 XDL 系列的 DCM 技術(shù)通過算法補償，使得在該測量距離范圍內(nèi)都能保持穩(wěn)定的檢測精度。這一特性在實際應(yīng)用中具有重要意義，特別是在檢測表面不平整或有元器件凸起的樣品（如印刷電路板）時，無需復(fù)雜的樣品預(yù)處理即可輕松完成測量。
高分辨率成像與精準定位
內(nèi)置高分辨率 CCD 彩色攝像頭，放大倍數(shù)通常在 40x - 160x 之間，能夠清晰觀察樣品表面，并精確定位測量區(qū)域。視頻界面中一般還配備有十字線、經(jīng)過校準的刻度以及測量點尺寸指示，同時搭配可調(diào)節(jié)亮度的 LED 照明系統(tǒng)和激光定位點，輔助快速、準確地對準樣品測量位置，大大提高了操作的便利性和測量的準確性。
大尺寸樣品適應(yīng)性
部分型號（如 XDL 230）的測量箱底部設(shè)有開槽，專為面積大而形狀扁平的樣品設(shè)計，使得儀器可以測量比測量箱更長和更寬的樣品，如大型的印制電路板。同時，測量室具備較大尺寸，能夠容納相當大尺寸的樣品，進一步增強了對不同規(guī)格樣品的檢測能力。
